Danske studerende deltager i international 3D metrologikonkurrence
GOM Education Award er en 3D metrologikonkurrence, arrangeret af tyske GOM, som er producent af 3D-måleudstyr og software. Konkurrencen henvender sig til studerende og går ud på, at deltagerne skal forberede et innovativt eksperiment ved brug af en ATOS 3D-scanner.
I konkurrencen er to hold fra VIA University College i Horsens og Syddansk Universitet i Odense repræsenteret. Fra VIA har Jannie Steffensen og Esben Obel, som studerer til maskiningeniører, arbejdet med 3D-scanning af 3D-printede objekter, før og efter de er blevet overfladebehandlet med acetone.
Formålet med konkurrencen er at gøre eksperimenterne tilgængelige for uddannelsesintuitioner verden over. Derfor er et af kravene, at eksperimentet kan genskabes i et standard laboratorium. Jannie Steffensen fortæller:
- For at tage højde for forskellige faktorer, har vi konstrueret et 3D-emne med geometrier, der vil være interessante at måle på. Vi har prøvet at lave et eksperiment med stor fleksibilitet, som kan skaleres op og ned alt efter skolernes ressourcer. Vi ville gøre det muligt for skolerne at lave alternative løsninger med hensyn til andre type modeller og overfladebehandlinger.
For de to studerende var GOM Education Award en mulighed for at arbejde med et projekt, de syntes var interessant, samt lære mere om 3D-scanning, og hvad teknologien kan bruges til. Ifølge Jannie er teknologien meget relevant og interessant for deres fremtidige arbejde, da den kan bruges i mange brancher og til at løse forskellige opgaver.
Teamet med det bedste eksperiment vinder prisen ”GOM Education Award” og 3.000 euro. Derudover får vinderholdet mulighed for at præsentere eksperimentet for førende virksomheder indenfor inspektion, kvalitetskontrol og produktudvikling. Det sker ved årets GOM 3D Metrology Conference, som afholdes den 26.-27. september i Braunschweig, Tyskland.
